大塚电子(苏州)有限公司
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ELSZ粒径仪-大塚电子(在...

产品特点对应高盐浓度溶液界达电位。可量测0-90℃宽阔的温度范围。可量测悬浊度的高浓度样本粒径。搭载自动温度梯度测量功能,粒径仪价格,可分析变性、相变温度。通过最i新型的高感度APD提高感光度,成功...

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大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。...

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激光粒度仪的测量原理要求在测试过程中,大塚粒径仪,样品的浓度以样品中颗粒之间相互不发生二次散射为原则,理论上就是要求悬浮液或者空气中颗粒之间的距离为颗粒直径的3倍,但是这个要求非常难以掌握,粒径仪,...

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膜厚测试仪波谱校准不关机状态下每日必做一次或每次关机3小时以上再次重开机必做,目的让仪器进行自我补偿调整。首先点击任务栏中的“波谱校准”,OPTM膜厚仪,然后将波谱校准片放入仪器,将Cu-Ag合金部...

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相位差光学材料量产品特点:可更加的量测低相位差(0.1nm~)最适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪,RETS,展现任...

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偏光计测模组是用CCDcamera的1shot来获取多角度的偏光强度pattern,rets偏光膜测试,因与以往的偏光计测装置相比,其无偏光子回旋机构,故其可维持其高精度的测定及稳定的性能。用基准S...

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用基准Sample实施设备,RETS,偏光prismunit的角度校正和基准Sample自身的Retardation测量。此外,反射用偏光子的角度校正可同时进行。本装置是photonic结晶偏光子a...

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颗粒的表面电位通常无法测量,但Zeta电位是可以直接测量的。通常,ELSZ粒径测试仪,双电层越厚,Zeta电位越高,这里起作用的是Zeta电位的绝i对值,与正电还是负电的符号无关。双电层的存在是分散...

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粒径仪提供快速、准确、便捷的粒径大小测试,界连电位测试以及分子量的测试。该分析仪可在0.3nm-10μm粒度范围内进行粒径测量,-200到200mV间进行界达电位测量。光学配件■高输出半导激光,高感...

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ELSZ粒度仪-大塚电子(在...

目前测量Zeta电位的方法主要有电泳法、电渗法、流动电位法以及超声波法,其中以电泳法应用最广。Zeta电位的测量使我们能够详细了解分散机理,它对静电分散控制至关重要。对于酿造、陶瓷、制药、药品、矿物...

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